波長(zhǎng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀的照射方式可分為上照式和下照式兩種光學(xué)結(jié)構(gòu)。

上照式光學(xué)結(jié)構(gòu)即X光管在樣品上方，下照式光學(xué)結(jié)構(gòu)即X光管在樣品下方。

下照式光學(xué)系統(tǒng)

上照式光學(xué)系統(tǒng)

上照式X熒光光譜儀和下照式X熒光光譜儀都能對(duì)液體樣品、固體樣品、粉末樣品、不規(guī)則樣品或少許稀松粉末進(jìn)行元素分析。兩類(lèi)儀器在光學(xué)空間結(jié)構(gòu)和光學(xué)元器件一致的情況下，精度沒(méi)有區(qū)別。

針對(duì)固體和液體樣品的測(cè)試，基于兩類(lèi)儀器配置的樣品盒結(jié)構(gòu)不同，下照式儀器裝樣更簡(jiǎn)單。其中，液體樣品的測(cè)試需要在氦氣下進(jìn)行。

針對(duì)粉末樣品，一般需要用壓片法或者熔片法做前處理。當(dāng)分析壓片時(shí)，一旦粉末樣品未壓緊，稀松的樣品粉末在重力和真空作用下，會(huì)進(jìn)入到下照式的儀器的光譜室或光管，造成不可逆的污染，而采用上照式的儀器即可完全避免粉末樣品對(duì)分析腔和X光管的污染。

在分析熔片時(shí)，如果玻璃熔片處理不當(dāng)，在分析過(guò)程中，可能開(kāi)裂掉落，大的碎塊直接損害下照式的儀器X光管，若使用上照式的儀器，碎塊就會(huì)掉落到樣品盒里，更加安全可靠。

綜上所述，粉末樣品的測(cè)試上照式儀器更安全，更有優(yōu)勢(shì)；固體和液體樣品，下照式儀器裝樣更簡(jiǎn)單。