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理學(xué)新一代波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀ZSX Primus IIInext，采用理學(xué)獨(dú)特的光路結(jié)構(gòu)，使其成為質(zhì)量和生產(chǎn)控制等應(yīng)用中通用XRF的理想選擇。

理學(xué)ZSX系列中最新的儀器，ZSX Primus沿襲了及時(shí)提供精確結(jié)果的傳統(tǒng)，無與倫比的可靠性，靈活性和簡(jiǎn)便性適合當(dāng)今實(shí)驗(yàn)室的各種挑戰(zhàn)

理學(xué)掃描型波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus IV采用獨(dú)特的上照射設(shè)計(jì)，完美契合粉末樣品測(cè)試需求，可以快速定量分析從Be（鈹）到U（鈾）的各種類型樣品的成分分析。

Supermini200擁有改良的軟件功能和更為小巧的機(jī)身。作為臺(tái)式順序WDXRF，可以分析幾乎任何材料中從氧（O）到鈾（U）的元素。理學(xué)的Supermini200提供了低成本，高分辨率和低檢出限。

理學(xué)Simultix 15波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀，作為一款功能強(qiáng)大的元素分析分析工具，廣泛用于高吞吐量和精度的行業(yè)（例如鋼鐵和水泥）的過程控制和品質(zhì)管控。

全反射 X 射線熒光光譜儀表面污染計(jì)量測(cè)量離散點(diǎn)的元素污染或使用完整的晶圓圖

Rigaku 獨(dú)特的 ZSX Primus 400 連續(xù)波長(zhǎng)色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀專為處理非常大或重的樣品而設(shè)計(jì)。

日本理學(xué)全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF-V310通過 VPD-TXRF 進(jìn)行晶圓表面污染測(cè)量超痕量元素表面污染的測(cè)量

理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀ZSX Primus IVi，采用下照式光路結(jié)構(gòu)，能夠?qū)σ后w、合金和電鍍金屬等樣品進(jìn)行無損分析。ZSX Primus IVi為分析最復(fù)雜的樣品提供了卓越的性能和靈活性。

波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評(píng)估的X射線熒光分析儀同時(shí)對(duì)各種薄膜的薄膜厚度和成分進(jìn)行無損、非接觸式分析